„Mintázat 2.óra” változatai közötti eltérés
| 7. sor: | 7. sor: | ||
*Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés), fáziskontraszt és interferencia mikroszkópia | *Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés), fáziskontraszt és interferencia mikroszkópia | ||
*Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok) | *Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok) | ||
| − | *Sebességmérés áramlásokban | + | *Sebességmérés áramlásokban (Particle Image Velocimetry - PIV, Particle Tracking) |
| − | * | + | *Nem átlátszó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (index matching, PEPT, DWS, MRI, CT) |
| − | * | + | *CCD és CMOS szenzorok tulajdonságai |
| + | |||
| + | ==Árnyékleképezés (shadowgraph)== | ||
| + | |||
| + | ==Schlieren technika== | ||
| + | |||
| + | ==Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés)== | ||
| + | |||
| + | ==Fáziskontraszt mikroszkópia== | ||
| + | |||
| + | ==Interferencia mikroszkópia== | ||
| + | |||
| + | ==Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok)== | ||
| + | |||
| + | ==Sebességmérés áramlásokban (Particle Image Velocity - PIV)== | ||
| + | |||
| + | ==Sebességmérés áramlásokban (Particle Tracking)== | ||
| + | |||
| + | ==Nem átlászó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (index matching)== | ||
| + | |||
| + | ==Nem átlászó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (PEPT, DWS, MRI, CT)== | ||
| + | |||
| + | ==CCD és CMOS szenzorok tulajdonságai== | ||
[[Mintázatképződés_komplex_rendszerekben|<<<Vissza az óra nyitólapjára]] | [[Mintázatképződés_komplex_rendszerekben|<<<Vissza az óra nyitólapjára]] | ||
==Hivatkozások== | ==Hivatkozások== | ||
A lap 2011. december 10., 17:48-kori változata
Az alábbi órán a különböző kísérleti technikák működési elvével foglalkoztunk. Fontos tudni, hogy a jelen órán vizsgált rendszereknél a válasz nem lineáris a perturbációval, azaz ha van két megoldásunk, akkor ezek lineárkombinációja nem lesz megoldás. A továbbiakban ezen az órán olyan technikákkal fogunk foglalkozni, amelyek segítségével a kis amplitudójú, vagy bonyolult geometriájú esetben a térbeli struktúrákat láthatóvá lehet tenni.
Tartalomjegyzék
- 1 Kísérleti technikák
- 2 Árnyékleképezés (shadowgraph)
- 3 Schlieren technika
- 4 Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés)
- 5 Fáziskontraszt mikroszkópia
- 6 Interferencia mikroszkópia
- 7 Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok)
- 8 Sebességmérés áramlásokban (Particle Image Velocity - PIV)
- 9 Sebességmérés áramlásokban (Particle Tracking)
- 10 Nem átlászó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (index matching)
- 11 Nem átlászó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (PEPT, DWS, MRI, CT)
- 12 CCD és CMOS szenzorok tulajdonságai
- 13 Hivatkozások
Kísérleti technikák
A következő technikákkal foglalkozunk az alábbiakban:
- Árnyékleképezés (shadowgraph), schlieren technika
- Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés), fáziskontraszt és interferencia mikroszkópia
- Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok)
- Sebességmérés áramlásokban (Particle Image Velocimetry - PIV, Particle Tracking)
- Nem átlátszó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (index matching, PEPT, DWS, MRI, CT)
- CCD és CMOS szenzorok tulajdonságai
