„Mintázat 2.óra” változatai közötti eltérés
(→Árnyékleképezés (shadowgraph)) |
|||
| 12. sor: | 12. sor: | ||
==Árnyékleképezés (shadowgraph)== | ==Árnyékleképezés (shadowgraph)== | ||
| + | Lényege: intenzív, monokromatikus fényforrással optikai inhomogenitások árnyékképét hozzuk létre. A jelenség alapja, hogy a fény az optikailag sűrűbb közeg felé törik (hajlik el - lásd lentebb a bal oldali ábrát). Egy inhomogén optikai közeg (például egy gyertyaláng) különböző részei fókuszálják, más részei pedig defókuszálják a beérkező fénynyalábot, így kialakul egy árnyékkép. Az árnyékkép alakjából pedig következtetni tudunk a megfigyelt minta sűrűségeloszlására. Természetesen ez a technika csak optikailag átlátszó közegek esetén (pl. levegő, víz, üveg) alkalmazható. | ||
| + | |||
| + | [[Kép:refraction.png|thumb|left|400px|A fénytörés jelensége]] | ||
| + | [[Kép:gradient_index_lens.png|thumb|center|400px|Gradiens indexű lencse fényfókuszálása]] | ||
==Schlieren technika== | ==Schlieren technika== | ||
A lap 2011. december 10., 18:11-kori változata
Az alábbi órán a különböző kísérleti technikák működési elvével foglalkoztunk. Fontos tudni, hogy a jelen órán vizsgált rendszereknél a válasz nem lineáris a perturbációval, azaz ha van két megoldásunk, akkor ezek lineárkombinációja nem lesz megoldás. A továbbiakban ezen az órán olyan technikákkal fogunk foglalkozni, amelyek segítségével a kis amplitudójú, vagy bonyolult geometriájú esetben a térbeli struktúrákat láthatóvá lehet tenni.
Tartalomjegyzék
- 1 Kísérleti technikák
- 2 Árnyékleképezés (shadowgraph)
- 3 Schlieren technika
- 4 Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés)
- 5 Fáziskontraszt mikroszkópia
- 6 Interferencia mikroszkópia
- 7 Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok)
- 8 Sebességmérés áramlásokban (Particle Image Velocity - PIV)
- 9 Sebességmérés áramlásokban (Particle Tracking)
- 10 Nem átlászó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (index matching)
- 11 Nem átlászó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (PEPT, DWS, MRI, CT)
- 12 CCD és CMOS szenzorok tulajdonságai
- 13 Hivatkozások
Kísérleti technikák
A következő technikákkal foglalkozunk az alábbiakban:
- Árnyékleképezés (shadowgraph), schlieren technika
- Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés), fáziskontraszt és interferencia mikroszkópia
- Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok)
- Sebességmérés áramlásokban (Particle Image Velocimetry - PIV, Particle Tracking)
- Nem átlátszó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (index matching, PEPT, DWS, MRI, CT)
- CCD és CMOS szenzorok tulajdonságai
Árnyékleképezés (shadowgraph)
Lényege: intenzív, monokromatikus fényforrással optikai inhomogenitások árnyékképét hozzuk létre. A jelenség alapja, hogy a fény az optikailag sűrűbb közeg felé törik (hajlik el - lásd lentebb a bal oldali ábrát). Egy inhomogén optikai közeg (például egy gyertyaláng) különböző részei fókuszálják, más részei pedig defókuszálják a beérkező fénynyalábot, így kialakul egy árnyékkép. Az árnyékkép alakjából pedig következtetni tudunk a megfigyelt minta sűrűségeloszlására. Természetesen ez a technika csak optikailag átlátszó közegek esetén (pl. levegő, víz, üveg) alkalmazható.
