Mintázat 2.óra
A lap korábbi változatát látod, amilyen Csega (vitalap | szerkesztései) 2011. december 10., 17:48-kor történt szerkesztése után volt.
Az alábbi órán a különböző kísérleti technikák működési elvével foglalkoztunk. Fontos tudni, hogy a jelen órán vizsgált rendszereknél a válasz nem lineáris a perturbációval, azaz ha van két megoldásunk, akkor ezek lineárkombinációja nem lesz megoldás. A továbbiakban ezen az órán olyan technikákkal fogunk foglalkozni, amelyek segítségével a kis amplitudójú, vagy bonyolult geometriájú esetben a térbeli struktúrákat láthatóvá lehet tenni.
Tartalomjegyzék
- 1 Kísérleti technikák
- 2 Árnyékleképezés (shadowgraph)
- 3 Schlieren technika
- 4 Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés)
- 5 Fáziskontraszt mikroszkópia
- 6 Interferencia mikroszkópia
- 7 Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok)
- 8 Sebességmérés áramlásokban (Particle Image Velocity - PIV)
- 9 Sebességmérés áramlásokban (Particle Tracking)
- 10 Nem átlászó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (index matching)
- 11 Nem átlászó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (PEPT, DWS, MRI, CT)
- 12 CCD és CMOS szenzorok tulajdonságai
- 13 Hivatkozások
Kísérleti technikák
A következő technikákkal foglalkozunk az alábbiakban:
- Árnyékleképezés (shadowgraph), schlieren technika
- Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés), fáziskontraszt és interferencia mikroszkópia
- Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok)
- Sebességmérés áramlásokban (Particle Image Velocimetry - PIV, Particle Tracking)
- Nem átlátszó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (index matching, PEPT, DWS, MRI, CT)
- CCD és CMOS szenzorok tulajdonságai
