„Mintázat 2.óra” változatai közötti eltérés

Innen: TételWiki
(Árnyékleképezés (shadowgraph))
(Árnyékleképezés (shadowgraph))
20. sor: 20. sor:
  
 
A fenti, jobb oldali ábrán látható gradiens indexű lencse (gradient index lens) éppen úgy fókuszálja (vagy defókuszálja) a fényt, ahogy az árnyékleképezés során az inhomogén anyagok keresztülhaladó fénnyel is történik. A lencse működését a fenti ábra jól szemlélteti. Egy egyszerű, (például) kocka alakú tárgyról van szó, melynek törésmutatója inhomogén és így a domború lencsékhez hasonlóan fókuszálja a fényt.
 
A fenti, jobb oldali ábrán látható gradiens indexű lencse (gradient index lens) éppen úgy fókuszálja (vagy defókuszálja) a fényt, ahogy az árnyékleképezés során az inhomogén anyagok keresztülhaladó fénnyel is történik. A lencse működését a fenti ábra jól szemlélteti. Egy egyszerű, (például) kocka alakú tárgyról van szó, melynek törésmutatója inhomogén és így a domború lencsékhez hasonlóan fókuszálja a fényt.
 +
 +
<gallery widths=300px heights=300px caption="Példák a fenti jelenségre">
 +
Image:refraction_car.png|Az autó fölött "fodrozódó" levegő is a fent ismertetett hatás következménye
 +
Image:gyertyaláng-shadowgraph.png|A gyertyaláng árnyékképe
 +
</gallery>
  
 
==Schlieren technika==
 
==Schlieren technika==

A lap 2011. december 11., 19:58-kori változata

Az alábbi órán a különböző kísérleti technikák működési elvével foglalkoztunk. Fontos tudni, hogy a jelen órán vizsgált rendszereknél a válasz nem lineáris a perturbációval, azaz ha van két megoldásunk, akkor ezek lineárkombinációja nem lesz megoldás. A továbbiakban ezen az órán olyan technikákkal fogunk foglalkozni, amelyek segítségével a kis amplitudójú, vagy bonyolult geometriájú esetben a térbeli struktúrákat láthatóvá lehet tenni.

Kísérleti technikák

A következő technikákkal foglalkozunk az alábbiakban:

  • Árnyékleképezés (shadowgraph), schlieren technika
  • Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés), fáziskontraszt és interferencia mikroszkópia
  • Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok)
  • Sebességmérés áramlásokban (Particle Image Velocimetry - PIV, Particle Tracking)
  • Nem átlátszó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (index matching, PEPT, DWS, MRI, CT)
  • CCD és CMOS szenzorok tulajdonságai

Árnyékleképezés (shadowgraph)

Lényege: intenzív, monokromatikus fényforrással optikai inhomogenitások árnyékképét hozzuk létre. A jelenség alapja, hogy a fény az optikailag sűrűbb közeg felé törik (hajlik el - lásd lentebb a bal oldali ábrát). Egy inhomogén optikai közeg (például egy gyertyaláng) különböző részei fókuszálják, más részei pedig defókuszálják a beérkező fénynyalábot, így kialakul egy árnyékkép. Az árnyékkép alakjából pedig következtetni tudunk a megfigyelt minta sűrűségeloszlására. Természetesen ez a technika csak optikailag átlátszó közegek esetén (pl. levegő, víz, üveg) alkalmazható.

A fenti, jobb oldali ábrán látható gradiens indexű lencse (gradient index lens) éppen úgy fókuszálja (vagy defókuszálja) a fényt, ahogy az árnyékleképezés során az inhomogén anyagok keresztülhaladó fénnyel is történik. A lencse működését a fenti ábra jól szemlélteti. Egy egyszerű, (például) kocka alakú tárgyról van szó, melynek törésmutatója inhomogén és így a domború lencsékhez hasonlóan fókuszálja a fényt.

Schlieren technika

Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés)

Fáziskontraszt mikroszkópia

Interferencia mikroszkópia

Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok)

Sebességmérés áramlásokban (Particle Image Velocity - PIV)

Sebességmérés áramlásokban (Particle Tracking)

Nem átlászó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (index matching)

Nem átlászó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (PEPT, DWS, MRI, CT)

CCD és CMOS szenzorok tulajdonságai

<<<Vissza az óra nyitólapjára

Hivatkozások