Mintázat 2.óra

Innen: TételWiki
A lap korábbi változatát látod, amilyen Csega (vitalap | szerkesztései) 2011. december 10., 18:11-kor történt szerkesztése után volt. (Árnyékleképezés (shadowgraph))

Az alábbi órán a különböző kísérleti technikák működési elvével foglalkoztunk. Fontos tudni, hogy a jelen órán vizsgált rendszereknél a válasz nem lineáris a perturbációval, azaz ha van két megoldásunk, akkor ezek lineárkombinációja nem lesz megoldás. A továbbiakban ezen az órán olyan technikákkal fogunk foglalkozni, amelyek segítségével a kis amplitudójú, vagy bonyolult geometriájú esetben a térbeli struktúrákat láthatóvá lehet tenni.

Kísérleti technikák

A következő technikákkal foglalkozunk az alábbiakban:

  • Árnyékleképezés (shadowgraph), schlieren technika
  • Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés), fáziskontraszt és interferencia mikroszkópia
  • Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok)
  • Sebességmérés áramlásokban (Particle Image Velocimetry - PIV, Particle Tracking)
  • Nem átlátszó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (index matching, PEPT, DWS, MRI, CT)
  • CCD és CMOS szenzorok tulajdonságai

Árnyékleképezés (shadowgraph)

Lényege: intenzív, monokromatikus fényforrással optikai inhomogenitások árnyékképét hozzuk létre. A jelenség alapja, hogy a fény az optikailag sűrűbb közeg felé törik (hajlik el - lásd lentebb a bal oldali ábrát). Egy inhomogén optikai közeg (például egy gyertyaláng) különböző részei fókuszálják, más részei pedig defókuszálják a beérkező fénynyalábot, így kialakul egy árnyékkép. Az árnyékkép alakjából pedig következtetni tudunk a megfigyelt minta sűrűségeloszlására. Természetesen ez a technika csak optikailag átlátszó közegek esetén (pl. levegő, víz, üveg) alkalmazható.

A fénytörés jelensége
Gradiens indexű lencse fényfókuszálása

Schlieren technika

Polarizációs mikroszkópia (kettőstörés)

Fáziskontraszt mikroszkópia

Interferencia mikroszkópia

Periodikus struktúrák detektálása diffrakcióval (helyérzékeny fotodetektorok)

Sebességmérés áramlásokban (Particle Image Velocity - PIV)

Sebességmérés áramlásokban (Particle Tracking)

Nem átlászó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (index matching)

Nem átlászó rendszerek belsejében lejátszódó jelenségek vizualizálása (PEPT, DWS, MRI, CT)

CCD és CMOS szenzorok tulajdonságai

<<<Vissza az óra nyitólapjára

Hivatkozások